1.被測物體特性
基體金屬性質(zhì)：基體金屬的磁性、電導(dǎo)率等物理性質(zhì)對測量有影響。例如，磁性法測厚時，基體金屬磁性變化會影響測量結(jié)果，即使是低碳鋼的磁性變化也需考慮，應(yīng)使用與試件金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)儀器；電渦流測厚儀則受基體金屬電導(dǎo)率影響，而電導(dǎo)率與材料成分及熱處理方法有關(guān)，同樣需要用相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)。
基體金屬厚度：每種涂層測厚儀都有基體金屬的臨界厚度，大于該厚度測量不受基體厚度影響，但小于臨界厚度時，測量結(jié)果可能會因基體厚度的變化而產(chǎn)生偏差。
表面粗糙度：基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度越大，對測量結(jié)果的影響越明顯。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，導(dǎo)致測量不準(zhǔn)確、重復(fù)性差。因此，在測量前需對表面進(jìn)行適當(dāng)處理，如打磨、拋光等，以減小粗糙度對測量的影響。
曲率半徑：對于彎曲表面的測量，曲率半徑越小，測量誤差越大。因?yàn)槌Ｓ玫奶筋^表面為平面，與曲面接觸時聲強(qiáng)透射率低、耦合不好，尤其是在小管徑測厚時更為明顯。
邊緣效應(yīng)：涂層測厚儀對試件表面形狀的陡變敏感，在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處測量不可靠，這些部位的測量結(jié)果通常會比實(shí)際值偏大或偏小。
內(nèi)部缺陷：當(dāng)材料內(nèi)部存在夾雜、夾層等缺陷時，超聲波在其中穿過時會產(chǎn)生嚴(yán)重的散射衰減，可能導(dǎo)致回波湮沒，造成測量結(jié)果不顯示或顯示值與實(shí)際厚度不符。
2.儀器相關(guān)因素
探頭性能：探頭是測厚儀的關(guān)鍵部件，其接觸面磨損、老化或污染等都會影響測量精度。長期使用的探頭表面粗糙度可能增加，導(dǎo)致靈敏度下降，從而使測量結(jié)果不準(zhǔn)確。因此，要定期檢查和更換探頭。
校準(zhǔn)準(zhǔn)確性：儀器若未經(jīng)過正確校準(zhǔn)或校準(zhǔn)過期，會導(dǎo)致測量結(jié)果出現(xiàn)偏差。校準(zhǔn)時應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片或待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保測量的準(zhǔn)確性。
設(shè)備故障：儀器本身的電子元件故障、軟件問題等也可能導(dǎo)致測量結(jié)果異常。例如，信號處理電路故障可能使測量信號無法準(zhǔn)確傳輸和處理，從而影響測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
3.環(huán)境因素
溫度：溫度變化會引起金屬材料的熱脹冷縮，從而影響鍍層的厚度和儀器的性能。此外，高溫環(huán)境還可能影響探頭的靈敏度和耦合效果，進(jìn)而影響測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
濕度：高濕度環(huán)境可能導(dǎo)致被測物體表面潮濕，影響探頭與被測物體之間的耦合效果，使測量結(jié)果不準(zhǔn)確。同時，濕度還可能對儀器內(nèi)部的電子元件造成腐蝕和損壞，影響儀器的正常工作。
外磁場干擾：外部磁場的存在會干擾磁感應(yīng)型測厚儀的測量，使其測量結(jié)果出現(xiàn)偏差。因此，在使用磁感應(yīng)型測厚儀時，應(yīng)遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場環(huán)境或采取屏蔽措施。
4.金屬鍍層測厚儀操作因素
測量壓力：測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量讀數(shù)，壓力過大或過小都可能導(dǎo)致測量不準(zhǔn)確。因此，測量時應(yīng)保持壓力恒定，并按照儀器的操作規(guī)范進(jìn)行操作。
測頭取向：測頭的放置方式對測量有影響，應(yīng)使測頭與試樣表面保持垂直，否則會導(dǎo)致測量結(jié)果出現(xiàn)偏差。
附著物質(zhì)：被測物體表面的附著物質(zhì)，如灰塵、油污、氧化皮等，會影響探頭與被測物體的緊密接觸，從而導(dǎo)致測量結(jié)果不準(zhǔn)確。因此，在測量前需要清理被測物體表面的附著物質(zhì)。
